拓微电子TP4056涓流转恒流及高温工作测试报告

时间：2018-01-11 来源：本站点击：1159次

测试日期：2008-4-8

芯片名称：TP4056

测试板：本公司TP4056演示板

测试环境：温度20℃

测试目的：检测芯片在涓流转恒流及极限热耗散情况下（高温工作）的可靠性

测试条件：

电源电压：7.0V

充电设置电流：1.2A

充电电池起始充电电压：2.5V

测试结果说明：TP4056经过涓流，恒流，恒压三个充电阶段，芯片在2.9V左右进入恒流状态。

　　　　　　　恒流设置为1.2A，由于电源电压设置7V，芯片受热影响自适应而减小充电电流。（减小电源电压至5V左右则可得到大充电电流）

　　　　　　　可计算芯片上实际功率为芯片通过的电流×芯片电源端与电池端的压差约为3V即300mA×3V=0.9W 。约为此封装的热耗散功率。

测试项目：设置1A完整充电情况

测试条件：电源电压5V.　电池容量2400mA　

如客户在测试中芯片充电电流过小，请注意以下几点：

一，大电流测试中电池电压不应超过4.05V,当电池电压高于4.05V左右后，电流将逐渐减小，进入恒压充电阶段。

二，在测试中，若需要监测充电电流，请将电流表串联在电源端。不可串联在电池端。电流表内阻对测试有干扰。

三，我司测试中电源电压为5.028V，即电路板红线连接至电源的电压。若电源电压为5.2V以上，则由于芯片功率耗散的影响而减小充电电流。

请注意监测电源的实际电压。

测试结论：涓流恒流转换功能正常，芯片在极限热耗散的高温情况下工作正常。芯片热限制自适应减小电流功能正常。大电流持续工作可靠性良好。

　　　　　在充电过程中，设置大电流充电。电源在5V-8V范围开关上电可靠性良好。

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